納米粒度儀的基本操作&故障排除-蘇州線上講習(xí)會(huì)(2024-10-23)
無法測(cè)試出預(yù)想的結(jié)果,測(cè)試數(shù)據(jù)波動(dòng)這么大?是設(shè)置環(huán)境的不當(dāng)?運(yùn)用方法不對(duì)? 還是測(cè)試條件設(shè)置有誤?如果您也有同樣的困惑,請(qǐng)記得務(wù)必參加我司的網(wǎng)絡(luò)學(xué)習(xí)會(huì)。
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大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括:納米粒度儀,薄膜厚度測(cè)厚儀,非接觸薄膜測(cè)厚儀,濕膜測(cè)厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測(cè)定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測(cè)定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
大塚電子(蘇州)有限公司主要銷售用于光學(xué)特性評(píng)價(jià)?檢查的裝置.其產(chǎn)品包括:納米粒度儀,薄膜厚度測(cè)厚儀,非接觸薄膜測(cè)厚儀,濕膜測(cè)厚儀,激光粒度儀,激光粒度分析儀,激光粒度測(cè)定儀,納米粒度儀,粒度分析儀.是zeta電位測(cè)定儀廠家,點(diǎn)擊了解價(jià)格和報(bào)價(jià)...
包括光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等。光學(xué)顯微鏡可用于觀察晶圓表面的形貌、缺陷等,如劃痕、顆粒污染等,操作簡(jiǎn)單、成本較低,但分辨率相對(duì)有限。
包括光學(xué)顯微鏡和電子顯微鏡等。光學(xué)顯微鏡可用于觀察晶圓表面的形貌、缺陷等,如劃痕、顆粒污染等,操作簡(jiǎn)單、成本較低,但分辨率相對(duì)有限。
納米粒度儀主要是用于測(cè)量顆粒的粒徑及粒度分布等參數(shù),通常不能直接用于分子量測(cè)試。
Zeta 電位(ζ- 電位)是指剪切面(shear plane)的電位,是表征膠體分散系穩(wěn)定性的重要指標(biāo) 。分散粒子表面帶有電荷會(huì)吸引周圍的反號(hào)離子,這些反號(hào)離子在兩相界面呈擴(kuò)散狀態(tài)分布形成擴(kuò)散雙電層,根據(jù) stern 雙電層理論可將雙電層分為兩部分:stern 層和擴(kuò)散層 。
我們公司大塚電子(蘇州)為使用 “光”技術(shù)開發(fā)的測(cè)量?jī)x器、分析儀器提供從銷售到售后的全面服務(wù)支持。 就像母公司大塚制藥集團(tuán)旗下的大塚電子(日本)一樣,大塚電子(蘇州)也將“多樣性”,“創(chuàng)新性”和“全球化”作為基本方針,通過創(chuàng)新和具有創(chuàng)造性的產(chǎn)品和服務(wù),為全世界人民的生活做出貢獻(xiàn)。
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